๊น์๊ท
(Young-Kyun Kim)
1
์ด๊ธฐ์
(Kee-Ahn Lee)
1*
-
์ธํ๋ํ๊ต ์ ์์ฌ๊ณตํ๊ณผ
(Department of Materials Science and Engineering, Inha University, Incheon 22212, Republic of Korea)
Copyright ยฉ 2020 The Korean Institute of Metals and Materials
Key words
cold spray, pure cu, compression, tensile, high-strength, deformation behavior, constitutive model
1. ์ ๋ก
Cold spray ๊ณต์ ์ด๋ 1-50 ฮผm ํฌ๊ธฐ์ ๊ธ์ ๋ถ๋ง์ ๋ฎ์ ์จ๋์์ ์ฝ 300-1200 m/s์ ์ด์์์ผ๋ก ๊ฐ์์์ผ ๋ชจ์ฌ์ ์ถฉ๋์ํค๊ณ , ์ด์
์๋ฐ๋๋ ์์ฑ ๋ณํ์ ์ด์ฉํ์ฌ ๋น ๋ฅด๊ฒ ์ ์ธต์ํค๋ ๊ธฐ์ ๋ก ์ผ๋ช
kinetic spray ๋ผ๊ณ ๋ ๋ถ๋ฆฐ๋ค [1,2]. Cold spray ๊ณต์ ์ ๊ฐ์ฅ ํฐ ์ฅ์ ์ ์ฃผ๋ก ์์จ์์ ์งํ๋๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ฐํ๋ฌผ์ด ๊ฑฐ์ ์์ฑ๋์ง ์๊ณ , ๊ฐ๊ฐ์ ๋ถ๋ง์ ๊ฐ์์ฑ๋ณํ (severe
plastic deformation) ์ํด์ผ๋ก์จ ์
์ ๊ณ๋ฉด (interface)์ ๊ฒฐํฉ๋ ฅ ์์น์ ํตํด ๊ณ ๋ฐ๋์ ์์ฌ๋ฅผ ์ป์ ์ ์๋ค๋ ๊ฒ์ด๋ค [3,4]. ๋ํ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ์ฉ์ฌ์ฝํ
๊ณต์ (plasma spray, HVOF ๋ฑ)๊ณผ๋ ๋ฌ๋ฆฌ ๊ณ ์จ์ ์ด์์ ํ์๋ก ํ์ง ์๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ฐํ ํน์ ์๋ก์ด ์์
์ํ ๋ฌผ์ฑ ์ ํ์ ๊ฐ์ ๋จ์ ์ ๋ณด์ํ ์ ์๋ ์ ๊ธฐ์ ์ด๋ค. ํ์ฌ๊น์ง cold spray ๊ณต์ ์ ๋ด๋ถ์-๋ด๋ง๋ชจ์ฉ ์ฝํ
ํน์ ๋ฆฌํ์ด (repair)์ฉ
๊ณต์ ์ผ๋ก ์ฃผ๋ก ์ฌ์ฉ๋์ด์๋ค [5-7]. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ต๊ทผ cold spray ๊ณต์ ์ด near-net shape ์ ์กฐ๊ฐ ๊ฐ๋ฅํ ๊ณ ์ ์ ์ธต ์ ์กฐ (solid-state additive manufacturing)
๊ธฐ์ ๋ก ๊ณ ๋ ค๋จ์ ๋ฐ๋ผ ์ด์ ๋ํ ๊ด์ฌ์ด ์ฆ๊ฐํ๊ณ ์๋ค [8]. Cold spray additive manufacturing (CSAM) ๊ธฐ์ ์ ๋ถ๋ง์ ์ฉ์ต-์๊ณ ์์ผ 3 ์ฐจ์์ ์กฐํ์ฒด๋ฅผ ์ ์ํ๋ ๋ถ๋ง ๋ฒ ๋์ฉ์ต๋ฒ
(powder bed fusion, PBF) ๋ฐ ์ง์ ์๋์ง ์ฆ์ฐฉ๋ฒ (direct energy deposition, DED) ๊ณต์ ๊ณผ ๋น๊ตํ์ฌ ์น์
์ ๋ฐ๋๋ ์๋์ ์ผ๋ก ๋ฎ์ง๋ง, ๋ถ๋ง์ ์ฉ์ต์ํค์ง ์๊ธฐ๋๋ฌธ์ ๋ค์ํ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง์ -๊ธฐ๊ณ์ ์ฅ์ ์ ๊ฐ์ง ์ ์์ ๊ฒ์ผ๋ก ์์๋๋ค [9-10].
๊ทธ๋ฌ๋, CSAM ๊ธฐ์ ์ ๋ํ ๊ด์ฌ์ด ์ ์ฐจ ์ฆ๊ฐํจ์๋ ๋ถ๊ตฌํ๊ณ 3 ์ฐจ์ ๊ตฌ์กฐ ์์ฌ๋ก์ ์ฌ์ฉ๋๊ธฐ์ ๊ฐ์ฅ ๊ธฐ๋ณธ์ด ๋๋ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ ํ๊ฐ๋ ๋๋ถ๋ถ ๊ฒฝ๋
์ํ [11,12], ๋ง์ดํฌ๋ก ์ธ๋ดํ
์ด์
์ํ [13]์ ๊ตญํ๋์ด์ ธ ์๋ค. ์ผ๋ถ ๋ง์ดํฌ๋ก ์ธ์ฅ ์ํ์ ํตํ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ ํ๊ฐ, ํ๋จ๋ฉด ๋ถ์์ด ์ผ๋ถ ์ฐ๊ตฌ ๋ณด๊ณ ๋ ๋ฐ ์์ผ๋ ๋ณํ/ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ๋ํ ๋ถ์์
๋งค์ฐ ๋ฏธ๋นํ ์์ค์ด๋ค [14,15]. ์ด์ ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ ์ ์๋ค์ N2 gas๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ ์กฐ๋ CSAM Cu์ ์์ถ ํน์ฑ ๋ฐ ๋ณํ ๊ฑฐ๋์ ๋ํ์ฌ ์ผ๋ถ ์ฐ๊ตฌ๋ฅผ ์ํํ ๋ฐ ์๋ค [16,17]. ๊ทธ๋ฌ๋ CSAM Cu๋ฅผ ์ค์ ๊ตฌ์กฐ์ฉ ๋ถํ์ผ๋ก ์ฌ์ฉํ๊ธฐ ์ํด์๋ ์์ถ ๋ฟ๋ง ์๋๋ผ ์ธ์ฅ ํน์ฑ์ ๋ํ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ํ์์ ์ผ๋ก ์ํ๋์ด์ผ ํ์ง๋ง ํ์ฌ๊น์ง
์์ถ๊ณผ ์ธ์ฅ์์์ ๋ณํ/ํ๊ดด ์ฐจ์ด์ ๋ํ ์ฐ๊ตฌ๋ ์ ํ ์ํ๋ ๋ฐ ์๋ค.
๋ฐ๋ผ์ ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ CSAM Cu๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์์ ๊ตฌ๋ฆฌ๋ฒํฌ ์์ฌ๋ฅผ ์ ์กฐํ๊ณ , ์ฉ์ฌ ์์ง ๋ฐฉํฅ์ ๋ํ ๋ง์ดํฌ๋ก ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ์ํ์ ๊ฐ๊ฐ ์ํํ์๋ค.
์ด์ ํจ๊ป ์๋ก ๋ค๋ฅธ ์๋ ฅ ํ์์์ ๋ณํ ์ /ํ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง๊ณผ ํ๋จ๋ฉด ๊ด์ฐฐ์ ํตํด ์ต์ข
์ ์ผ๋ก ์๊ธฐ ์์ฌ์ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง, ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ, ๋ณํ/ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ์๊ด
๊ด๊ณ์ ๋ฏธ์น๋ ์ธ์ฅ-์์ถ ์๋ ฅ์ ์ํฅ์ ๊ท๋ช
ํ๊ณ ์ ํ์๋ค.
2. ์คํ๋ฐฉ๋ฒ
๊ทธ๋ฆผ 1(a)๋ ์ด๋ฒ ์ฐ๊ตฌ์ ์ด์ฉํ ์๋ 99% Cu ๋ถ๋ง์ ํ์์ ๋ณด์ฌ์ค๋ค. ๋ถ๋ง์ ๊ฒฝ์ฐ ๋๋ถ๋ถ ๊ตฌํ์ผ๋ก ํ์ธ๋๋ฉฐ ๋ถ๋ง ์
๋ (powder particle)
๋ถํฌ์ ํฌ๊ธฐ๋ 9-38 ฮผm, ํ๊ท ์
๋ (average particle size)๋ 27.7 ฮผm๋ก ์ธก์ ๋์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป ๋ถ๋ง์ ์ฐ์ ํจ๋์ ์ธก์ ํด
๋ณธ ๊ฒฐ๊ณผ 1661 ยฑ 96 ppm์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. High-resolution electron backscattered diffraction (HR-EBSD,
Oxford, Nordlys nano detector)๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ๋ถ๋ง์ grain orientation map์ ๊ด์ฐฐํ ๊ฒฐ๊ณผ, ์
์ ๋ด๋ถ์ ํ๊ท
๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํฌ๊ธฐ๋ ์ฝ 6 ฮผm์์ ์ ์ ์์์ผ๋ฉฐ ๋ถ๋ง ๋ด๋ถ์ ์ผ๋ถ sigma 3 twin์ด ์ผ๋ถ ์กด์ฌํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ๋ค (๊ทธ๋ฆผ 1(b)). ์ด๋ฌํ Cu ๋ถ๋ง์ ์ด์ฉํ์ฌ Table 1์ ์ ๋ฆฌ๋ ์ ์ ๊ณต์ ์กฐ๊ฑด์ผ๋ก 30 mm์ ๊ฑฐ๋ฆฌ์์ Al ๊ธฐ์ง์ Cu ๋ถ๋ง์ ์ ์ธต์์ผฐ๋ค. ์ฌ์ฉ๋ ๊ณต์ ์กฐ๊ฑด์ ๊ฒฝ์ฐ ์ด์ ๋ค์ํ ์ฌ์ ์คํ์ ํตํ์ฌ
์ป์ด์ง ์ต์ ์ ์กฐ ์กฐ๊ฑด์ด๋ค. ์ด ๋ converge-diverge๋ฅผ ํตํด ์
์ ์๋๋ฅผ ๊ทน๋ํ ์ํค๋ de laval type nozzle๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์ผ๋ฉฐ
์ก๊ธ ๊ฐ์ค๋ก๋ He์ ์ด์ฉํ์๋ค.
Cold spray ๊ณต์ ์ค ์ด๊ธฐ ์
์ ๋ด์ ์กด์ฌํ๋ ์ ๋ฐ ๊ณต์ ๋์ค ์ฐํ๋ฌผ ํน์ ๋ถ์๋ฌผ ๋ฑ์ ์ ๋ณํ๊ฐ ๋ฐ์ํ๋์ง ์์๋ณด๊ธฐ ์ํด X-ray diffractometer
(XRD Ultima IV, Cu Kฮฑ radiation, scan step size; 0.05 deg., scan rate; 2 deg. min-1)๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค. ์ด๊ธฐ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง ๊ด์ฐฐ์ ์ํด ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ์์ง ์ ๋จ๋ฉด์ silicon carbide paper (#100 ~
#2000) ๋ฐ 1 ฮผm ์์ค์ diamond suspension์ผ๋ก ๊ธฐ๊ณ์ ์ฐ๋ง๋ฅผ ์ค์ํ์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป cold spray ๊ณต์ ์ค ๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก
๋ณด๊ณ ๋๊ณ ์๋ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ ํ์ธํ๊ณ ์ ์์ ์ธ๊ธํ ๊ธฐ๊ณ์ ์ฐ๋ง ํ ์ต์ข
์ ์ผ๋ก 0.04 ฮผm์ colloidal sillica๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ๊ฒฝ๋ฉด
์ฐ๋ง๋ฅผ ์ค์ํ์๋ค. ๊ฒฝ๋ฉด ์ฐ๋ง๋ ์ํธ์ ๋ํ์ฌ step size 50 nm, 15 kV์ ์กฐ๊ฑดํ์์ EBSD ๋ถ์์ ์ํํ์ผ๋ฉฐ EBSD data ๋ถ์์
imaging microscopy software (AZtecHKL) ํ๋ก๊ทธ๋จ์ ์ด์ฉํ์๋ค.
CSAM Cu์ ์๋ ฅ ๋ชจ๋์ ๋ฐ๋ฅธ ํน์ฑ์ ์ฐ๊ตฌํ๊ธฐ ์ํด ๋๊ป ์์งํ ๋ฐฉํฅ์ ๋ํด ์ธ์ฅ ์ํธ๊ณผ ์ํตํ ์์ถ ์ํธ์ ์ ์ํ์๋ค. ์ฌ๊ธฐ์ ์ธ์ฅ์ ํ์์
ASTM D 1708 ๊ท๊ฒฉ์ ๋น๋กํ๋ ์ํธ์ ์ ์ํ๊ณ MTS 810 ์ฅ๋น๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ 10-3/s์ ์ด๊ธฐ ๋ณํ๋ฅ ์๋ ์กฐ๊ฑด์์ ์ํํ์๋ค. ์์ถ ์ํธ์ ๊ฒฝ์ฐ ฮฆ 2 mm X 3 (height) mm์ ์ํตํ ์ํธ์ ์ ์ํ์ผ๋ฉฐ Gleeble
Tester๋ฅผ ์ด์ฉํ์์ผ๋ฉฐ ์ด๊ธฐ ๋ณํ๋ฅ ์๋์กฐ๊ฑด 10-3/s์ผ๋ก ฮตt = 0.9๊น์ง ์์ถ ์ํ์ ์งํํ์๋ค.
3. ์คํ๊ฒฐ๊ณผ ๋ฐ ๊ณ ์ฐฐ
3.1. ์ด๊ธฐ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง
๊ทธ๋ฆผ 2๋ ์ ์กฐ๋ CSAM Cu์ ๊ฑฐ์์ ์ด๋ฏธ์ง๋ก์จ ๊ฐ๋ก 36 mm, ๋๋น 22 mm, ๋๊ป 4 mm๋ก ์ธก์ ๋์๋ค. ์ํธ์ ์ด๋ฏธ์ง ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋ชจ์ฌ์ธ Al๊ณผ์
๋ฐ๋ฆฌ ํ์์ ๋ํ๋์ง ์์์ผ๋ฉฐ Cu ์ฝํ
์ธต ๋ด ๊ท ์ด์ ํ์ฑ๋์ง ์์๋ค. ์ฆ CSAM ๊ณต์ ์ ํตํด ์ฑ๊ณต์ ์ผ๋ก ๋ฒํฌ ํํ์ Cu๋ฅผ ์ ์กฐํ ์ ์๋ ๊ฒ์ผ๋ก
ํ์ธ๋์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป CSAM ํ ์๋ ๋ฐ๋๋ฅผ ์ธก์ ํ ๊ฒฐ๊ณผ 99.10%๋ฅผ ๋ํ๋ด์ด ์ ํต์ ์ธ ์ ์กฐ ๊ณต์ ์ผ๋ก ๋ง๋ค์ด์ง Cu์ ์ ์ฌํ ์์ค์ ๋ณด์ด๋ ๊ฒ์ผ๋ก
๋ํ๋ฌ๋ค.
๊ทธ๋ฆผ 3(a)๋ ์ด๊ธฐ Cu ๋ถ๋ง๊ณผ CSAM ๋ฒํฌ Cu์ X-ray ํ์ ํจํด ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก CSAM ํ์๋ ์ด๊ธฐ ๋ถ๋ง์์ ๊ฒ์ถ๋ ฮฑ-Cu ๋จ์์ด ์ ์ง๋์๊ณ ์ ๋ณํ๋
๋ํ๋์ง ์์๋ค. ์ด๋ฌํ ์ด์ ๋ ์ฉ์ต ๋ฐ ์๊ณ ๋ฅผ ํตํด ์ ์ธต์ํค๋ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ์ฉ์ฌ ์ฝํ
๊ณต์ ๊ณผ๋ ๋ฌ๋ฆฌ CSAM์ ๊ณ ์จ์ ์ด์์ ํ์๋ก ํ์ง ์๊ณ , ๋ถ๋ง์
๊ณ ์ ์ํ์์ ์์ฑ ๋ณํ๋ง์ ์ด์ฉํ์ฌ ๋ถ๋ง์ ์ ์ธตํ๋ ๊ธฐ์ ์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ด๋ค [18]. ํํธ, CSAM ์ /ํ ๋ถ๋ง๊ณผ ๋ฒํฌ ์์ฌ์ ์ ์ ๋ฐ๋๋ฅผ ์ธก์ ํ๊ธฐ ์ํ์ฌ Ungar ๋ฑ [19,20]์ด ์ ์ํ modified Williamson-Hall plot์ ์ด์ฉํ์ผ๋ฉฐ ์ด๋ ์๋์ ๊ฐ์ Eq. (1)์ผ๋ก ํํ๋๋ค:
์ฌ๊ธฐ์ ฮฮธ ๋ฐ ฮธ๋ ๊ฐ๊ฐ ํ์ ๊ฐ (diffraction angle) ๊ณผ ๋ฐ์นํญ (full width of half maximum)์ด๋ค. ์ด์ ํจ๊ป,
b๋ ๋ฒ๊ฑฐ์ค ๋ฒกํฐ, d๋ ํ๊ท ์
์ ํฌ๊ธฐ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ฯ๋ ์ ์ ๋ฐ๋์ด๋ค. M์ ์ ์์ effective outer cut-off radius์ ๋ํ ์์, O๋ ์์ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ M์ 1-2 ์ฌ์ด ๊ฐ์ ๊ฐ์ง๋ค [20].
C๋ ์๋์ Eq. (2)๋ฅผ ํตํด ๊ฐ์ด ๊ณ์ฐ๋ ์ ์๋ค:
์ฌ๊ธฐ์ Ch00๋ h00 reflection์ ๋ํ average contrast factor์ด๋ฉฐ Cu์ h00 ๊ฐ์ 0.3065๋ก ๊ณ์ฐ๋๋ค [18]. q๋ edge, screw ๋ฐ mixed character์ ๋ํ ๊ฐ์ผ๋ก์จ (ฮK2-ฮฑ)/K2 and H2 plot์ ํตํด ๊ณ์ฐ๋ ์ ์๋ค (Eq. (3)). ์ต์ข
์ ์ผ๋ก modified Williamson-Hall plot์ ํตํด m์ ์ป์ ๋ค ฯ = 2m2/(ฯM2b2)๋ก ์ ์ ๋ฐ๋๋ฅผ ์ธก์ ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 3(b)์ ๋์ํ ฮK vs. KC1/2๋ก ์์ธก๋ ์ด๊ธฐ Cu ๋ถ๋ง๊ณผ CSAM Cu์ ํ๊ท ์ ์ ๋ฐ๋๋ ๊ฐ๊ฐ 3.60 ร 1013/m2, 2.36 ร 1014/m2๋ก ์ธก์ ๋์ด CSAM ํ ์ ์ ๋ฐ๋๋ ์ฝ 6.5๋ฐฐ ์ฆ๊ฐํ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ด๋ CSAM ์ค ์ด์์์ผ๋ก ๋ถ๋ง์ด ๋ชจ์ฌ์ ์ ์ธต๋๋ ๊ณผ์ ์์ ๊ฐ๊ฐ์ ๋ถ๋ง์ด
๊ฐ์์ฑ ๋ณํํ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ 4๋ CSAM Cu์ EBSD ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ณด์ฌ์ค๋ค. ๋จผ์ , ๊ฒฐ์ ๋ฐฉ์ ๋งต (grain orientation map) ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ(a), ๋ฌธํ ์์ ๋ณด๊ณ ๋
๊ฒ๊ณผ ๊ฐ์ด ๋ถ๋ง ๋ด๋ถ์๋ ์๋์ ์ผ๋ก ์กฐ๋ํ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด, ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์์๋ ์ ๋ฐฑ nm ํฌ๊ธฐ์ ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด ๊ด์ฐฐ๋์ด heterogeneous grain
structure๋ฅผ ๊ฐ์ง๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค [21,22]. ์ด์ ํจ๊ป ํ๊ท ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํฌ๊ธฐ๋ 1.42 ฮผm๋ก ์ป์ด์ก๋ค. ๊ฐ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๊ฐ์ misorientation angle ๊ด๊ณ๋ฅผ ํตํด ์ฌ๊ฒฐ์ ๋ถ์จ ๋งต (recrystallized
fraction map)์ ๋ถ์ํ๊ณ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ (b)์ ๋์ํ์๋ค. ์ฌ๊ธฐ์ ์ฌ์ฉ๋ ์ฌ๊ฒฐ์ ๋ถ์จ ๋งต์ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ average angle๊ณผ misorientation
angle๊ฐ์ ์๊ด ๊ด๊ณ๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ฌ๊ฒฐ์ ์ ๋๋ฅผ ํํํ๋ ๋ฐฉ๋ฒ์ด๋ค. ๋นจ๊ฐ์์ผ๋ก ํ์๋ ์์ญ์ deformed structure๋ก ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ average
angle์ด ์ ๊ฒฝ๊ฐ๊ณ๋ก ๊ตฌ๋ถ๋๋ 2ยฐ ์ด์์ธ ๊ฒฝ์ฐ์ ํด๋น๋๋ฉฐ, ๋
ธ๋์์ผ๋ก ํ์๋ ์์ญ์ substructured area๋ก average angle์
2ยฐ ์ดํ์ด๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ์ ์กด์ฌํ๋ subgrain๊ฐ misorientation์ด 2ยฐ ์ด์์ผ ๊ฒฝ์ฐ์ ํด๋น๋๋ค. ๋ง์ง๋ง์ผ๋ก ํ๋์์ผ๋ก ํ์๋ ์์ญ์
fully recrystallized area๋ก ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ๊ฐ ๊ฑฐ์ ํ๋์ ๊ฒฐ์ ๋ฐฉ์๋ก ์ด๋ฃจ์ด์ ธ ์๋ ์์ญ์ด๋ค. ์์ ๊ฐ๋
์ ๋์
ํ์ฌ ์ฌ๊ฒฐ์ ์ ๋๋ฅผ
๋ถ์ํด ๋ณธ ๊ฒฐ๊ณผ, fully recrystallized ๋ฐ substructured๋ ๊ฐ๊ฐ 25%, 15%๋ก ์ ์ฒด์ ์ฝ 40%๊ฐ๋์ ์ฐจ์งํ๋ฉฐ, ๋๋ถ๋ถ
๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์ ๋ฐ๋ผ ์ง์ค์ ์ผ๋ก ๊ด์ฐฐ๋์๋ค. ์ฆ ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์์๋ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง์ ๋ณํ๊ฐ ๋ฐ์ํ ๊ฒ์ ์ ์ ์์ผ๋ฉฐ ์ด๋ฌํ ์์ธ์ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ (dynamic
recrystallization, DRX) ํ์์ ๊ธฐ์ธํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์๋ ค์ ธ์๋ค [23].
Cold spray ๊ณต์ ์ค ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ด ๋ฐ์ํ๋ ์ด์ ์ ๋ํด์๋ ๋ค์ํ ์ฐ๊ตฌ์๋ค์ ์ํด ๋ณด๊ณ ๋ ๋ฐ ์๋ค. ๋จผ์ Stoltenhoff ๋ฑ [14] ๋ฐ Bae ๋ฑ [3]์ ๋ฐ๋ฅด๋ฉด ๋งํ์ ์๋๋ก ๋ถ๋ง์ด ๋ชจ์ฌ ๋ฐ ๋ถ๋ง์ ์ ์ธต๋๋ ๊ณผ์ ์์ ๋ฐ์ํ ์ด์ ์ธ๋ถ๋ก ๋ฐฉ์ถ๋์ง ๋ชปํ๊ณ ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด ์์ญ์ adiabatic shear
instability (ASI)๋ผ ๋ถ๋ฆฌ๋ ์ด์ ํ์ฑํ ์์ญ์ ๋ฐ์ํ๋ค. King ๋ฑ [24]์ ์ฐ๊ตฌ ๊ฒฐ๊ณผ์ ๋ฐ๋ฅด๋ฉด cold sprayed Cu์ ๋ถ๋ง ๋ด๋ถ ๋ฐ ๊ณ๋ฉด์์์ ํ๊ท ๋ณํ๋ ์ฐจ์ด๋ ์ฝ 3๋ฐฐ ์ด์์ผ๋ก ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์์ ๊ทน์ฌํ ๋ณํ์ด
๋ฐ์ํ๋ค. ์ฆ, ๋ถ๋ง์ด ์ด์์์ผ๋ก ๋ชจ์ฌ ๋ฐ ๋ถ๋ง๊ณผ ์ถฉ๋ํ๋ ๊ณผ์ ์์ ๋ฐ์ํ ์ฌํ ๋ณํ๊ณผ ์ด ์๋์ง๋ ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์ ์ด์ญํ์ ์ผ๋ก ๋งค์ฐ ๋ถ์์ ํ ์ํ๋ก
๋ง๋ค๊ฒ ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ์ด๋ฌํ ๋ถ์์ ํ ์ํ๋ฅผ ํด์ํ๊ณ ์ ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด ์์ญ์์ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ด ๋ฐ์ํ๊ณ , ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๋ถ๊ท ์ผํ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๊ตฌ์กฐ (heterogeneous
grain structure)๊ฐ ํ์ฑ๋๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค. ์ฌ๊ธฐ์ ์ฃผ์ํด์ผ ํ ์ ์ ๋ถ๋ง์ ์ถฉ๋ ๊ณผ์ ์ค ์๊ฐ ์ต๋ ์จ๋๋ ์ฝ 200 oC ์์ค์ผ๋ก
์๋ ค์ ธ ์์ผ๋ฉฐ, ์์ Cu์ ์ฌ๊ฒฐ์ ์จ๋๋ฅผ ๊ณ ๋ คํด ๋ณผ ๋ ์ ์ ์ฌ๊ฒฐ์ (static recrystallization, SRX) ํ์์ ์ํ ์ฌ๊ฒฐ์ ์
๋ฐ์ํ์ง ์๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์๊ฐ๋๋ค [25]. ๋ฐ๋ผ์, heterogeneous grain structure๋ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ ๊ธฐ์ธํ ๊ฒ์ผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ฉฐ ์ด๋ฌํ ํ์์ ์ผ๋ถ ๊ฐ์์ฑ ๊ฐ๊ณต๋ฒ
(severe plastic deformation, SPD)์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ ์์ฌ [26,27]์ cold sprayed materials์์ ์ข
์ข
๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ณด๊ณ ๋๊ณ ์๋ค [23,28].
3.2. ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ํน์ฑ
๊ทธ๋ฆผ 5๋ CSAM Cu์ ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ์ํ์ ๋ํ ์๋ ฅ-๋ณํ๋ฅ ๊ณก์ ๋ค์ด๋ค. ํญ๋ณต ๊ฐ๋ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ, ์ธ์ฅ-์์ถ ๋ ์กฐ๊ฑด ๋ชจ๋ ์ฝ 415 MPa์ ๋งค์ฐ ๋์
ํญ๋ณต ๊ฐ๋๋ค (yield strengths)์ ๋ณด์๋ค. ์ด๋ ์ฐ์ํ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ ๋ณด์ด๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์๋ ค์ง ๊ฐ์์ฑ ๊ฐ๊ณต๋ฒ, equal channel angular
pressing (ECAP) ํน์ high pressure torsion (HPT)์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ Cu์ ๋น๊ตํ์ฌ ์ ์ฌํ๊ฑฐ๋ ๋ณด๋ค ๋์ ์์ค์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค
[27,29]. ๋ํ ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ๋ฐฉํฅ์ ๋ฐ๋ผ ํญ๋ณต๊ฐ๋์ ์ฐจ์ด๋ ๋ํ๋์ง ์์์ผ๋ฉฐ ์ด๋ฅผ ํตํด ์์ฑ ๋ณํ์ด ๋ฐ์ํ๊ธฐ ์ ๊น์ง tension-compression
asymmetry๋ ๊ฑฐ์ ์๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์๋ค.
๋ณธ ์ ์๋ค์ ์ด์ ์ฐ๊ตฌ์์ N2 carrier gas๋ก ์ ์กฐํ CSAM Cu์ ์์ถ ์ํ์ ํตํด cold sprayed materials์ ์ฐ์ํ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ ๋ํด ์ผ๋ถ ์ฐ๊ตฌ-์ ์ํ
๋ฐ ์๋ค [17]. CSAM์ ๋ฐ์ด๋ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ 1) ๋ถ๋ง ์ ์ธต ๊ณผ์ ์์ ๊ธ๊ฒฉํ ์ฆ๊ฐํ๋ ๋ด๋ถ ์ ์ ๋ฐ๋, 2) ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํฌ๊ธฐ์ ๊ธฐ์ธํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํด์๋์๋ค.
์ฆ ๊ฐ์์ฑ ๋ณํ์ ์ํด ์ฆ๊ฐ๋ ์ ์๋ฟ๋ง ์๋๋ผ DRX ํ์์ผ๋ก ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์ ์์ฑ๋ ์ ๋ฐฑ nm ํฌ๊ธฐ์ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด Hall-Petch ๊ด๊ณ์ ๋ฐ๋ผ ์๊ธฐ
์์ฌ์ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ ๋ณด๋ค ํฅ์์ํจ ๊ฒ์ผ๋ก ์ค๋ช
๋ ์ ์๋ค [17]. ์ด์ ํจ๊ป, ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก SRX ํ์์ผ๋ก ์์ฑ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ ๊ฒฝ์ฐ ๋ด๋ถ ์ ์ ๋ฐ๋๊ฐ ๋งค์ฐ ๋ฎ์ผ๋ฉฐ ๊ฐ๋๋ฅผ ํฌ๊ฒ ๊ฐ์์ํฌ ์ ์๋ค [30]. ๊ทธ๋ฌ๋, Zou ๋ฑ [31]์ ์ผ๋ถ cold spray ๊ณต์ ์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ๊ฒฝ์ฐ ๋ถ๋ง ๊ณ๋ฉด์์ ์์ฑ๋๋ ์๋ฐฑ nm ํฌ๊ธฐ์ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด ๋ด๋ถ ์กฐ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ๊ณผ ๋น๊ตํ์ฌ ๋์ indentation
hardness ๊ฐ์ ๊ฐ์ง๋ค๊ณ ๋ณด๊ณ ํ ๋ฐ ์๋ค. ์ฆ, SRX์๋ ๋ฌ๋ฆฌ cold spray ๊ณต์ ์์ ๋ฐ์ํ๋ DRX์ ์ํด ์์ฑ๋ ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ ์ ์
๋ฐ๋๊ฐ ๋์ ์กฐ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ณด๋ค ๋ณํ์ ๋ํ ์ ํญ์ฑ์ด ๋๊ณ , ๊ทธ๋ฆผ 4์ ๋ํ๋ธ ๋ฐ์ ๊ฐ์ด ๋์ ๋ถ์จ์ ์ฐจ์งํจ์ผ๋ก์จ ์๊ธฐ ์์ฌ์ ๊ณ ๊ฐ๋ํ์ ์ฃผ์ํ ์์ธ์ด ๋๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ๋จ๋๋ค.
3.3. ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ๋ณํ ๊ฑฐ๋
์๋ ฅ-๋ณํ๋ฅ ๊ณก์ ์ ๋จผ์ ์ฃผ๋ชฉํด ๋ณผ ์ ์ ์ธ์ฅ ์ํ ์ค ๋ฐ์ํ๋ ์์ฑ ๋ณํ์ด๋ค. ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก cold spray ๊ธ์ ์์ฌ์ ๋ํ ๋ง์ดํฌ๋ก ์ธ์ฅ ์ํ์์๋
๋๋ถ๋ถ ํญ๋ณต ์ ์ ์ง๋์ง ๋ชปํ๊ณ ํ๋จ์ด ๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ณด๊ณ ๋๊ณ ์๋ค [15,32]. ๊ทธ๋ฌ๋, ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ ํฅ๋ฏธ๋กญ๊ฒ๋ ์ธ์ฅ ์ํ ์ค ํญ๋ณต ๊ฐ๋๊น์ง ์์ฌ๊ฐ ์๋ ฅ์ ์์ฉํ๋ฉฐ, ์ผ๋ถ ์์ฑ ๋ณํ์ด ๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ๋ค. ์ด์ ๋ฐ๋ผ
CSAM Cu๊ฐ ์ธ์ฅ ์ํ ์ค ์ค์ ๋ณํ์ ์์ฉํ ์ ์๋ ์ง ์์๋ณด๊ธฐ ์ํด ํ๋จ๋ ์ํธ์ ๋ํด ์์ง ์ ๋จ ํ EBSD ๋ถ์์ ์ํํ์ผ๋ฉฐ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ
๊ทธ๋ฆผ 6์ ๋์ํ์๋ค. ๊ฒฐ์ ๋ฐฉ์ ๋งต ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ, ํ๋จ๋ฉด ๋ถ๊ทผ์์ ์ธ์ฅ ์๋ ฅ์ด ๊ฐํด์ง๋ ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ๋ค์ด ์ผ๋ถ ์ฐ์ ๋ ํํ๋ฅผ ๋ณด์์ผ๋ฉฐ ๋ค๋์ ์ ๊ฒฝ๊ฐ ๊ฒฝ๊ณ
(low angle boundary, LAB-white line)๊ฐ ๊ด์ฐฐ๋์๋ค. ์ฆ, He์ ํตํด ๋์ gas velocity๋ฅผ ๋ถ์ฌํด์ค ๊ฒฝ์ฐ ๊ฑด์ ํ
CSAM Cu๋ฅผ ์ ์กฐํ ์ ์์ผ๋ฉฐ, ์ธ์ฅ ์ํ์์ ํญ๋ณต ์๋ ฅ๊น์ง ์ ์งํ ์ ์๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ด์ ๋๋ถ์ด, ์ ์ ๊ณต์ ์กฐ๊ฑด ์ ์ด๋ ํญ๋ณต ์๋ ฅ
์ดํ ์ผ๋ถ ๋ณํ ์์ฉ์ ๊ฐ๋ฅ์ผํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ค์ ํ ๋๋ก ์ต๊ทผ๊น์ง ์๋ง์ ์๋ฌธ์ด ์ ๊ธฐ๋์ด์ ธ ์๋ ์ธ์ฅ-์์ถ์์์ ๊ฐ๋ ์ฐจ์ด๋
ํฌ์ง ์์ ๊ฒ์ ์ ์ ์์๋ค. ๋ํ, ์ ์ ์กฐ๊ฑด ๋์ถ์ ํตํด ์ธ์ฅ ์ํ์์๋ ์ผ๋ถ ์์ฑ ๋ณํ์ ์์ฉ ๊ฐ๋ฅ์ผํ์ฌ ๊ตฌ์กฐ ์ฌ๋ฃ๋ก์ ์ ์ฉ ๊ฐ๋ฅ์ฑ์ ํ์ธํ
์ ์์๋ค.
ํํธ, ์์ถ ์๋ ฅ-๋ณํ๋ฅ ๊ณก์ ์ ์ฃผ๋ชฉํ ์ ์ ์์ถ ๋ณํ์ค ๊ทน๋ ์๋ ฅ (peak stress) ์ดํ ๋ฐ์ํ๋ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ํ์์ด๋ค. ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ๊ฐ๊ณต
์ฐํ ํ์์ ๊ณ ์จ์์ ๋ฐ์ํ๋ฉฐ, ์์จ์์๋ ์ฝ๊ฒ ๋ํ๋์ง ์๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์๋ ค์ ธ ์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋, ์ผ๋ถ ๊ฐ์์ฑ ๊ฐ๊ณต๋ฒ์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ผ์ ๋ณํ๋
์ดํ ๋์ ํ๋ณต ๋ฐ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ ๋ฐ์์ผ๋ก ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ํ์์ด ๋ฐ์ํ๋ค๋ ์ฐ๊ตฌ ๊ฒฐ๊ณผ๊ฐ ๋ณด๊ณ ๋๊ณ ์๋ค [33-35]. ๋ํ ๊ฐ์์ฑ ๊ฐ๊ณต๋ฒ์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ฐ๊ณต์ฐํ ๊ณผ์ ์์ ๊ณ ๊ฒฝ๊ฐ ์
๊ณ (high angle boundary, HAB)์ ๋ถ์จ์ด ๊ธ๊ฒฉํ ์ฆ๊ฐํ๋
๊ฒฝํฅ์ ๋ณด์ด๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ด์ ๋ฐ๋ผ CSAM Cu์ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ๊ฑฐ๋์ ์ดํดํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ์์ถ ์ํธ์ ๋ํ EBSD ๋ถ์์ ์ํํ๊ณ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ
๊ทธ๋ฆผ 7์ ๋ํ๋๋ค. ๋จผ์ ๊ฒฐ์ ๋ฐฉ์ ๋งต ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ(a), ๋ชจ๋ ์์ญ์์ ์ด ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด ํ์ฑ๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์์ผ๋ฉฐ ํ๊ท ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํฌ๊ธฐ๋ ~0.45 ฮผm๋ก
์ธก์ ๋์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป ์ด ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ์์ญ ์ธ ์๋์ ์ผ๋ก ์กฐ๋ํ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ ์ด์ ์ ๋ง์ถฐ๋ณด๋ฉด ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ์ ์ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด ๋ค๋ ํ์ฑ๋์ด ์๋ ๊ฒ์ ์
์ ์๋ค. ์๊ธฐ ๊ฒฐ๊ณผ๋ค์ ๊ณ ๋ คํด ๋ณผ ๋, CSAM Cu์ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ํ์์ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๋จ๊ณ๋ก ์ค๋ช
๋ ์ ์๋ค: 1) ๋ณํ์ด ๊ฐํด์ง๋ ์ค ์๊ฒฐ์ ๋ฆฝ
(subgrain)์ ์์ฑ (๋์ ํ๋ณต), 2) ์๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํ์ (sub-grain rotation)์ ์ํ ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ์์ฑ (๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ ).
๋ฐ๋ผ์ ์๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํ์ ์ด ๋ฐ์ํ๋์ง ์์๋ณด๊ณ ์ ์ฌ๊ฒฐ์ ๋ถ์จ ๋งต์ ๋ถ์ํ์ผ๋ฉฐ ๊ทธ๋ฆผ 7(b)์ ๋์ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 7(b)์ ๋ํ๋ ๊ฒ๊ณผ ๊ฐ์ด ๋๋ถ๋ถ์ ์์ญ์ substructured์ fully recrystallized area๋ก ํ์ธ๋์์ผ๋ฉฐ ๊ฐ๊ฐ 31%, 43%์
๋ถ์จ์ ๊ฐ์ง๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์ธก์ ๋์๋ค. ์ด๋ ๋ค๋์ ๋ณํ (ฮตt = 0.9)์ด ๊ฐํด์ง๋ ๊ณผ์ ์์ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง์ ๋ณํ (๋์ ํ๋ณต, ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ )๊ฐ ๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ ๋ช
ํํ ์๋ฏธํ๋ค. ์์ถ๋ณํ ์ค ๋ฐ์ํ๋ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง์ ๋ณํ๋ฅผ
๋ท๋ฐ์นจํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ๋ณํ ํ misorientation angle distribution์ ๋ถ์ํ์ผ๋ฉฐ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ 8์ ๋์ํ์๋ค. ์ธ์ฅ ๋ณํ๋ ์์ฌ์ ๊ฒฝ์ฐ LABs์ ๋ถ์จ์ด ๋งค์ฐ ๋๊ณ , HABs์ ๋ถ์จ์ ๋งค์ฐ ๋ฎ์ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ๋ฐ๋ฉด, ์์ถ ๋ณํ๋ ์์ฌ์
๊ฒฝ์ฐ ๋์ฑ ์ฌํ ๋ณํ์ด ๊ฐํด์ก์์๋ ๋ถ๊ตฌํ๊ณ LABs๋ณด๋ค HABs์ ๋ถ์จ์ด ๋๊ฒ ์ธก์ ๋์๋ค. ์ฆ, ๋ฎ์ ๋ณํ๋์ ์์ฉํ ์ธ์ฅ ์ํธ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ ์ ๋ฐ๋๊ฐ
์ฆ๊ฐํ๋ฉฐ ์ด์ ๋ฐ๋ผ ์ฝ๊ฐ์ ๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํ๊ฐ ๋ฐ์ํ๋ค. ์ด์ ๋ฌ๋ฆฌ ์์ถ ๋ณํ์ ๊ฒฝ์ฐ peak stress ์ด ํ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง์ ๋ณํ (๋์ ํ๋ณต ๋ฐ ๋์ ์ฌ๊ฒฐ์ )๊ฐ
๋ฐ์ํจ์ ๋ฐ๋ผ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ๊ฐ ๋ํ๋จ์ ์ ์ ์์๋ค [33-35]. ํํธ, ์์ถ ๋ณํ์ ์ด๊ธฐ ๋จ๊ณ์์ ๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํํ์์ด ์ผ๋ถ ๋ํ๋๋ ์์ธ์ ๋ถ๊ท ์งํ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๊ตฌ์กฐ ์ค ์กฐ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ด๋ถ์์ ์ ์ ๋ฐ๋๊ฐ ์ฆ๊ฐํจ์ ๋ฐ๋ผ
๋ฐ์ํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค.
3.4. ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ๋ณํ์ ๋ฐ๋ฅธ ํ๊ดด ๊ฑฐ๋
์๊ธฐ ์์ฌ์ ์ธ์ฅ-์์ถ์ ๋ํ ํ๊ดด ๋ชจ๋๋ฅผ ํ์ธํ๊ธฐ ์ํด ์์ถ ํ๋ฉด ๊ท ์ด ๋ฐ ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด์ ๊ด์ฐฐํ์์ผ๋ฉฐ ์ด๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ 9์ ๋ํ๋๋ค. ์ฌ๊ธฐ์ (a)๋ ์์ถ ์ํธ์ ํ๋ฉด ๊ด์ฐฐ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ฉฐ (b)๋ ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด์ด๋ค. ์์ถ ํ๋ฉด ๊ท ์ด ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋๋ถ๋ถ ์์ถ ์๋ ฅ์ด ์์ฉํ๋ ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก
๊ท ์ด์ด ์์ฑ๋์๊ณ ์ด๋ฅผ ํ๋ํด ๋ณธ ๊ฒฐ๊ณผ ์ฉ์ฌ ์์ง ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก ์ฐ์ ๋ ๋ถ๋ง์ ์
์ ๊ณ๋ฉด์ ๋ฐ๋ผ ๋ฏ๊ฒจ์ง ํํ์ ํ๊ดด๊ฐ ๋ํ๋จ์ ํ์ธํ์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ด๋ฌํ
ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ์ด์ ์ฐ๊ตฌ์์ ์ํํ ์ฉ์ฌ ๋ฐฉํฅ ์์ถ ์ํ๊ณผ ๋น๊ตํ์ฌ ํฐ ์ฐจ์ด๊ฐ ์๋ ํ๊ดด๊ฑฐ๋์ด๋ค [17]. ์ฉ์ฌ ๋ฐฉํฅ์ ๋ํ ์์ถ ์ํ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ๋ฒํฌ ์์ฌ์ ์ ์ฌํ๊ฒ ํ์ค์ด ์์ฉํ๋ 45ยฐ ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก ๊ท ์ด์ด ์์ฑ๋์๋ค. ๋ํ ๋๋ถ๋ถ trans-particle
ํํ์ ํ๊ดด๋ฅผ ๋ณด์์ผ๋ก์ ์
์ ๊ณ๋ฉด์ด ํ๊ดด์ ๋ฏผ๊ฐํ๊ฒ ์์ฉํ์ง ์์๋ค. ์ฆ, CSAM Cu์ ๊ฒฝ์ฐ ํ์ค์ด ๊ฐํด์ง๋ ๋ฐฉํฅ์ ๋ฐ๋ผ ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ์ฐจ์ด๊ฐ
๋ํ๋๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์๋ค. ํํธ ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด์ ๊ฒฝ์ฐ, ์ทจ์ฑ ์์ฌ์๋ ๋ฌ๋ฆฌ ๊ตด๊ณก์ง ํํ์ ํ๊ดด๋ฉด์ ํ์ธํด ๋ณผ ์ ์์์ผ๋ฉฐ, ์ผ๋ถ 2์ฐจ ๊ท ์ด (secondary
crack) ์ญ์ ๊ด์ฐฐ๋์๋ค. ์ฆ, ๋ณํ์ ์ผ๋ถ ์์ฉ ๊ฐ๋ฅํ ๊ฒ์ ์ฐ์ฑ์ ํ๊ดด ํํ๋ฅผ ๋ณด์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ผ๋ก ์๊ฐ๋๋ค [36,37]. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ณ ๋ฐฐ์จ์์ ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด์ ๊ด์ฐฐํด๋ณด๋ฉด, ์ฌํ ์์ฑ ๋ณํ์ ๋ฐ์ ๋ถ๋ง์ด ๊ทธ๋๋ก ๋
ธ์ถ๋์ด์ ธ ๋ํ๋๋ ๊ฒ์ ํตํด ๊ธ์ํ์ ๊ฒฐํฉ (metallurgical
bonding)์ด ์ ๋๋ก ์ด๋ฃจ์ด์ง์ง ์์ ์์ญ์ ๋ฐ๋ผ ๊ท ์ด์ด ์์๋๊ณ ์ ํ๋์ด ๋ค์ ๋ฎ์ ๋ณํ๋์ ์์ฉํ๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์๋ค.
์ ์ ํ ๋ฐ์ ๊ฐ์ด ์ ์ธต๋ ์
์์ ๊ณ๋ฉด (particle boundary)์ ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ์ฃผ์ํ ์ญํ ์ ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ๋ฏธ์น๋
์
์ ๊ณ๋ฉด์ ์ํฅ์ ์์๋ณด๊ธฐ ์ํด ์์ถ์ํธ์ ๋จ๋ฉด๊ณผ ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด์ ๋ํ ๊ณ ๋ฐฐ์จ ๊ด์ฐฐ์ ์ํํ์๊ณ ์ด๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ 10์ ๋ํ๋๋ค. ๋จผ์ (a,b)๋ ์์ถ ์ํธ์ ๋จ๋ฉด ์ฌ์ง์ด๋ค. ๋๋ถ๋ถ์ ๊ท ์ด์ (a)์ ๊ฐ์ด ์
์ ๊ณ๋ฉด์ ๋ฐ๋ผ ์์ฑ๋์์ผ๋ฉฐ ๋งค์ฐ ๊ตญ๋ถ์ ์ธ ์์ญ์์ (b)์
๊ฐ์ trans-particle ํํ๋ฅผ ๋ํ๋๋ค. ์ด๋ฅผ ํตํด ๋๋ถ๋ถ์ ๊ท ์ด์์ฑ์๋ ์
์ ๊ณ๋ฉด์ด ๊ฒฐ์ ์ ์ธ ์ญํ ์ ํ๋ ๊ฒ์ ์ ์ ์์์ผ๋ฉฐ, ์ผ๋ถ ์์ญ์์
๊ด์ฐฐ๋๋ trans-particle ํํ์ ํ๊ดด๋ฅผ ํตํด ๋ถ๋ง ๊ฐ์ ๊ฒฐํฉ๋ ฅ์ด ์๋นํ ์ฐ์ํ ์์ญ์ด ์กด์ฌํ๋ ๊ฒ์ ๊ฐ์ ์ ์ผ๋ก ์ ์ ์์๋ค. ์ธ์ฅ ํ๋จ๋ฉด
๊ณ ๋ฐฐ์จ ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ (c), ์์ ๊ทธ๋ฆผ 9์์์ ๊ฐ์ด ๋๋ถ๋ถ์ด ์ฌํ ์์ฑ ๋ณํ์ ๋ฐ๋ ์
์ ๊ณ๋ฉด์์ ๋ฏ๊ฒจ์ง ๋ฏํ ํ๊ดด ๊ฑฐ๋์ ๋ณด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์
์ ๊ณ๋ฉด์ ์ด์ ์ ๋ง์ถฐ๋ณด๋ฉด (d), ์ ๋ฐฑ nm
ํฌ๊ธฐ์ ๋คํ๋ค์ด ๋ค๋ ๊ด์ฐฐ๋์๋ค. ์ด๋ ์์ ์์ถ ํ๋จ๋ฉด์์ ๊ด์ฐฐ๋ trans-particle ํํ์ ํ๊ดด์ ์ ์ฌํ๊ฒ ๋ถ๋ง ๊ฐ์ ๊ฒฐํฉ๋ ฅ์ด ๋งค์ฐ ์ฐ์ํ
์์ญ์ด ์กด์ฌํ๋ค๋ ๊ฒ์ ๋ํ๋ด๋ ์ฆ๊ฑฐ๋ก์จ ์๊ธฐ ์์ฌ์ ์๋ ฅ-๋ณํ๋ฅ ๊ณก์ ์์์ ๋ํ๋ ์ผ๋ถ ์์ฑ ๋ณํ์ ๋ท๋ฐ์นจํ๋ ๊ทผ๊ฑฐ๋ก ํ๋จ๋๋ค.
3.5. ๋ณํ ๊ฒฝํ ๋ฐ ์ฐํ ๊ตฌ์ฑ ๋ฐฉ์ ์
๊ฐ์์ฑ ๊ฐ๊ณต์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ FCC ๊ธ์๋ค์ ๊ฒฝ์ฐ ์์จ ๋ณํ์ค ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ํ์์ด ๋ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ณด๊ณ ๋๊ณ ์๋ค. Wei ๋ฑ์ ์ด๋ฌํ FCC ๊ธฐ๋ฐ ๊ธ์์
๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํ์ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ๋ฅผ ๊ณ ๋ คํ ๊ฒฝํ์ ์ธ ๊ตฌ์ฑ ๋ฐฉ์ ์์ ์ ์ํ์์ผ๋ฉฐ ์๋์ Eq.(4)๋ก ํํ๋๋ค [38]:
์ฌ๊ธฐ์ ฯs์ ํฌํ ์๋ ฅ, ฯf๋ ์์ธก๋ ์ ๋ ์๋ ฅ, ฯp๋ ๊ทน๋ ๋ณํ๋ (peak strain), r ๋ฐ q๋ ์์ (์ฌ๊ธฐ์ q๋ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ์๋, r์ ๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํ์ ์ฐํ๊ฐ ์ ์ ์ํ์ ๊ท ํ์ ์ผ๋งํผ ๋น ๋ฅด๊ฒ
๋๋ฌํ๋ ์ง์ ๋ํ ๋ณ์). ์ด๋ฌํ r ๋ฐ q ์ Avrami ํํ์ Eq. (5)์ ํตํด ์คํ์ ์ธ ๋ฐ์ดํฐ ํ๋กฏ์ fitting ํจ์ผ๋ก์จ ์ป์ ์ ์๋ค [39]:
์ฌ๊ธฐ์ XS ์ฐํ ๋ถ์จ์ด๋ฉฐ ์๋์ Eq. (6)์ผ๋ก ์ ์ํ ์ ์๋ค:
์๊ธฐ ๊ด๊ณ์์ผ๋ก๋ถํฐ ์ป์ด์ง ์คํ์ ๊ฐ๋ค์ ํ 2์ ์ ๋ฆฌํ์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป ํ 2์ ์ ๋ฆฌ๋ ์คํ์ ๊ฐ๋ค์ ์ด์ฉํ์ฌ He gas๋ก ์ ์กฐ๋ CSAM Cu์ ์ ๋ ๊ณก์ ์ ์์ธกํ๊ณ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ 11์ ๋์ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 11์ ์ดํด๋ณด๋ฉด Eq.(4)๋ก๋ถํฐ ๊ณ์ฐ๋ ๊ฐ์ด ์คํ์ ๋ฐ์ดํฐ์ ์ ์์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์ด ๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํ ๋ฐ ์ฐํ๋ฅผ ๊ณ ๋ คํ ๊ตฌ์ฑ ๋ฐฉ์ ์์ ํตํด CSAM Cu์ ๋ณํ ๊ฑฐ๋์ ์์ธก
๊ฐ๋ฅํจ์ ์ ์ ์์๋ค.
๊ฒฐ๋ก ์ ์ผ๋ก CSAM Cu์ ๊ฒฝ์ฐ ๋งค์ฐ ๋ฐ์ด๋ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ ๋ณด์ด๋ฉฐ ์ธ์ฅ-์์ถ ์ํ์์ ํญ๋ณต ๊ฐ๋๋ ์๋ก ์ ์ฌํ ๊ฐ์ ๊ฐ์ง๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ๋ค. ์ด๋ฅผ
ํตํด near net shaping์ด ๊ฐ๋ฅํ cold spray ๊ณต์ ์ ๊ตฌ์กฐ์ฉ ์์ฌ ์ ์กฐ ๊ฐ๋ฅ์ฑ์ ํ์ธํ ์ ์์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋, ์ฌ์ ํ ์ธ์ฅ์ ๊ฒฝ์ฐ
์ผ๋ถ ๋ณํ์ ์์ฉํ์ง๋ง ์
์ ๊ณ๋ฉด (particle interface)์์์ ๊ฒฐํฉ ๋ฌธ์ ์ ์ด ๋ฐ๊ฒฌ๋์๋ค. ํฅํ ์ด์ฒ๋ฆฌ ๋ฐ ๊ณต์ ๋ณ์ ์ ์ด ๋ฑ์ ํตํด
๊ฒฐํจ์ ์ค์ด๋ฉด laser-based AM ๊ธฐ์ ๋ค๊ณผ ๋น๊ตํ์ฌ ๋ค๋ฅธ ์ฅ์ ์ ๊ฐ์ง ์ ์๋ CSAM์ ํจ๊ณผ์ ์ผ๋ก ๊ตฌ์กฐ์ฉ ๋ถํ ์ ์กฐ์ ์ ์ฉํ ์ ์์ ๊ฒ์ผ๋ก
๊ธฐ๋๋๋ค.
4. ๊ฒฐ ๋ก
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ CSAM ๊ธฐ์ ์ ์ด์ฉํ์ฌ ๋๊ป ์ฝ 4 mm์ ์์ Cu ๋ฒํฌ ์์ฌ๋ฅผ ์ ์กฐํ์๋ค. ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ๋ํ์ฌ ์ธ์ฅ-์์ถ ์ํ ๋ฐ ๋ณํ/ํ๊ดด
๊ฑฐ๋์ ๋ถ์ํ๊ณ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๊ฒฐ๋ก ์ ์ป์๋ค
(1) ์ด๊ธฐ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ, CSAM Cu๋ ๋ฏธ์ธ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ๊ณผ ์กฐ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ์ด ํผ์ฌ๋ heterogeneous grain structure๋ฅผ ๋ณด์์ผ๋ฉฐ
ํ๊ท ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ํฌ๊ธฐ๋ ์ฝ 1.12 ฮผm๋ก ์ธก์ ๋์๋ค. ์ ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ ์ด๊ธฐ ๋ถ๋ง์์์ ๋์ผํ๊ฒ ฮฑ-Cu ๋จ์๋ง์ด ๊ฒ์ถ๋์๊ณ ์ถ๊ฐ์ ์ธ ์์ ํ์ธ๋์ง ์์๋ค.
(2) ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ์ํ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋ ์กฐ๊ฑด ๋ชจ๋ ์ฝ ~415 MPa์ ๋งค์ฐ ๋์ ํญ๋ณต ๊ฐ๋๋ฅผ ๋ณด์ฌ SPD ๊ณต์ ์ผ๋ก ์ ์กฐ๋ ์์ฌ์ ๋น๊ตํด์ ์ ์ฌํ๊ฑฐ๋
ํน์ ๋ฐ์ด๋ ํน์ฑ์ ๋ํ๋ด๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป ์ธ์ฅ์ ๊ฒฝ์ฐ ํ์ฌ๊น์ง ๋ณด๊ณ ๋ ๊ฒฐ๊ณผ์๋ ๋ฌ๋ฆฌ ํญ๋ณต ์๋ ฅ ์ดํ ์ผ๋ถ ์์ฑ ๋ณํ์ ์ผ๋ถ ์์ฉํ์๋ค.
๋ฐ๋ฉด ์์ถ์์๋ ์์จ์์ ์ฝ๊ฒ ๋ฐ์ํ์ง ์๋ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ ํ์์ด ๊ด์ฐฐ๋์๋ค.
(3) ๋ณํ ํ ๋ฏธ์ธ์กฐ์ง ๊ด์ฐฐ ๊ฒฐ๊ณผ, ์ธ์ฅ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ผ๋ถ ์์ฑ๋ณํ์ ์์ฉํ (์ฐ์ ๋ ๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ๋ฐ LAB) ์กฐ์ง์ด ๊ด์ฐฐ๋์์ผ๋ฉฐ, ๋์ LAB ๋ถ์จ์ ๋ณด์๋ค.
๋ฐ๋ฉด, ์์ถ ๋ณํ๋ ์ํธ์์๋ ์๊ฒฐ์ ๋ฆฝ ์์ฑ ๋ฐ ํ์ , HAB ๋ถ์จ์ ์ฆ๊ฐ๋ฅผ ํตํด ๋์ ํ๋ณต ๋ฐ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ด ๋ฐ์ํ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ฆ ์์ถ
๋ณํ ์ค ๋ฐ์ํ ๊ฐ๊ณต ์ฐํ๋ ๋์ ํ๋ณต ๋ฐ ์ฌ๊ฒฐ์ ํ์์ ๊ธฐ์ธํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ๋ค.
(4) ์ธ์ฅ ๋ฐ ์์ถ ์ํ ํ ํ๋ฉด ๋ฐ ๋จ๋ฉด์ ๊ด์ฐฐํด ๋ณธ ๊ฒฐ๊ณผ, ๊ฑฐ์์ ์ผ๋ก ๋ ์กฐ๊ฑด ๋ชจ๋ ์
์ ๊ณ๋ฉด์ ๋ฐ๋ผ ๊ท ์ด์ด ์ ํํ๋ ๊ฒฝํฅ์ ๋ณด์๋ค. ์ด์ ํจ๊ป,
๋ณํ์ ์ผ๋ถ ์์ฉํ๋ ์ธ์ฅ ์ํธ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ฐ์ฑ ํ๊ดด์์ ์ฃผ๋ก ๊ด์ฐฐ๋๋ ๋คํ (์์ญ ~ ์ ๋ฐฑ nm)์ด ํ์ฑ๋์ด ์์ฑ ๋ณํ์ด ๋ฐ์ํ ๊ฒ์ ์ง์ ์ ์ผ๋ก ํ์ธํด
๋ณผ ์ ์์๋ค. ๋ํ ๊ฐ๊ณต ๊ฒฝํ ๋ฐ ์ฐํ๋ฅผ ๊ณ ๋ คํ ๊ตฌ์ฑ ๋ฐฉ์ ์์ ์ด์ฉํ์ฌ CSAM Cu ์์ฌ์ ์์ถ๋ณํ ๊ฑฐ๋์ ์์ธกํด๋ณผ ์ ์์๋ค.
Acknowledgements
This study was supported by Korea Institute for Advancement of Technology (KIAT) grant
funded by the Korea Government (MOTIE) (P0002007, The Competency Development Program
for Industry Specialist).
REFERENCES
Ghasemi M. H., Ghasemi B., Semnani H. R. M., Met. Mater. Int,25, 1008 (2019)

Ham G. S., Kang Y. J., Kim H. J., Yoon S. H., Lee K. A., Korean J. Met. Mater,57,
138 (2019)

Bae G., Xiong Y., Kumar S., Kang K., Lee C., Acta Mater,57, 5654 (2009)

Won J., Bae G., Kang K., Lee C., Kim S. J., Lee K.-A., Lee S., J. Therm. Spray Technol,23,
818 (2014)

Koivuluoto H., Bolelli G., Lusvarghi L., Casadei F., Vuoristo P., Surf. Coat. Technol,205,
1103 (2010)

Yin S., Cavaliere P., Aldwell B., Jenkins R., Liao H., Li W., Lupoi R., Addit. Manuf,21,
628 (2018)

Irissou E., Legoux J. G., Ryabinin A. N., Jodoin B., Moreau C., J. Therm. Spray Technol,17,
495 (2008)

Pattison J., Celotto S., Morgan R., Bray M., O'neill W., Int. J. Mach. Tool. Manu,47,
627 (2007)

Thijs L., Verhaeghe F., Craeghs T., Humbeeck J. V., Kruth J. P., Acta Mater,58, 3303
(2010)

Zhang K., Liu W., Shang X., Opt. Laser Technol,39, 549 (2007)

Kwon S. H., Park D. Y., Kim H. J., Lee K. A., Korean J. Met. Mater,45, 216 (2007)

Eason P. D., Fewkes J. A., Kennett S. C., Eden T. J., Tello K., Kaufman M. J., Tiryakio
lu M., Mater. Sci. Eng. A,528, 8174 (2011)

Li W., Huang C., Yu M., Liao H., Mater. Des,46, 219 (2013)

Gรคrtner F., Stoltenhoff T., Voyer J., Kreye H., Riekehr S., Kocak M., Surf. Coat.
Technol,200, 6770 (2006)

Huang R., Sone M., Ma W., Fukanuma H., Surf. Coat. Technol,261, 278 (2015)

Kim K.-S., Yu J.-S., Won J.-Y., Lee C., Kim S.-J., Lee S., Lee K.-A., Met. Mater.
Trans. A,44, 4876 (2013)

Kim Y.-K., Kim K.-S., Park C.-H., Kim H.-J., Lee K.-A., J. Therm. Spray Technol,26,
1498 (2017)

Kim H. J., Lee C. H., Hwang S. Y., Surf. Coat. Technol,191, 335 (2005)

Ungar T., Gubicza J., Hanak P., Alexandrov I., Mater. Sci. Eng. A,319-321, 274 (2001)

Renzetti R. A., Sandim H. R. Z., Bolmaro R. E., Suzuki P. A., Moslang A., Mater. Sci.
Eng. A,534, 142 (2012)

Zou Y., Qin W., Irissou E., Legoux J. G., Yue S., Szpunar J. A., Scr. Mater,61, 899
(2009)

Wielage B., Grund T., Rupprecht C., Kuemmel S., Surf. Coat. Technol,205, 1115 (2010)

Koivuluoto H., Honkanen M., Vuoristo P., Surf. Coat. Technol,204, 2353 (2010)

King P. C., Zahiri S. H., Jahedi M., Met. Mater. Trans. A,40, 2115 (2009)

Li W. Y., Liao H., Li C. J., Li G., Coddet C., Wang X., Appl. Surf. Sci,253, 2852
(2006)

Sakai T., Miura H., Goloborodko A., Stdikov O., Acta Mater,57, 153 (2009)

Edalati K., Fujioka T., Horita Z., Mater. Sci. Eng. A,497, 168 (2008)

Kim K. H., Watanabe M., Kawakita J., Kuroda S., Scr. Mater,59, 768 (2008)

Kim Y. G., Hwang B. C., Lee S. H., Lee C. W., Shin D. H., Korean J. Met. Mater,46,
545 (2008)

Dieter G. E., Mechanical metallurgy,81Mc Graw-Hill Book Co. (1986)

Zou Y., Goldbaum D., Szpunar J. A., Yue S., Scr. Mater,62, 395 (2010)

AlMangour B., Vo P., Mongrain R., Irissou E., Yue S., J. Therm. Spray Technol,23,
641 (2014)

Li Y. J., Zeng X. H., Blum W., Acta Mater,52, 5009 (2004)

Saxl I., Kalousova A., Ilucova L., Sklenicka V., Mater. Charact,60, 1163 (2009)

Kapoor R., Sarkar A., Yogi R., Shekhawat S. K., Samajdar I., Chakravartty J. K., Mater.
Sci. Eng. A,560, 404 (2013)

Kim Y. K., Yoon T. S., Lee K. A., Korean J. Met. Mater,56, 121 (2018)

Joo Y. A., Kim Y. K., Yoon T. S., Lee K. A., Korean J. Met. Mater,56, 342 (2018)

Wei W., Wei K. X., Fan G. J., Acta Mater,56, 4771 (2008)

Oudin A., Barnett M. R., Hodgson P. D., Mater. Sci.Eng. A,367, 282 (2004)

Figures and Tables
Fig. 1.
Characteristics of pure copper powder used in this study; (a) morphology, (b) EBSD
grain orientation map.
Fig. 2.
Macro image of cold sprayed copper bulk material.
Fig. 3.
X-ray diffraction patterns analysis results; (a) X-ray spectra of Cu before and after
cold spray and (b) modified Williamson-Hall plot.
Fig. 4.
EBSD analysis results of cold sprayed Cu; (a) grain orientation map, (b) recrystallized
fraction map.
Fig. 5.
Tensile and compressive stress-strain curves for cold sprayed copper material.
Fig. 6.
EBSD grain orientation map of tensile deformed specimen.
Fig. 7.
Deformed microstructures at ฮตt = 0.9; (a) grain orientation map and (b) recrystallized fraction map.
Fig. 8.
Quantitative analysis of misorientation angle distribution; after (a) compressive
test and (b) tensile test.
Fig. 9.
(a) Compressive and (b) tensile fractured surface SEM images.
Fig. 10.
(a, b) Cross sectional images of compressive surface crack and (c, d) high magnification
tensile fractured surface images.
Fig. 11.
Flow curve produced by the estimated by Eq. (4) and the experimental data.
Table 1.
Cold spray process parameters used in this study.
|
|
Spray distance
|
Powder feed rate
|
Nozzle pressure
|
Gas temperature
|
Powder temperature
|
Gun speed
|
|
CSAM Cu
|
30 mm
|
5 rpm
|
26 bar
|
710 K
|
573 K
|
100 mm/s
|
Table 2.
Numerical values of the constant in Eq. (4) estimated by experimental data.
|
|
ฯs |
ฮตc |
ฮตp |
r
|
q
|
|
CSAM Cu
|
364 MPa
|
0.01
|
0.09
|
0.004
|
2.961
|