Reuss R. H., Chalamala B. R., Moussessian A., Kane M. G., Kumar A., Zhang D. C., Rogers
J. A., Hatalis M., Temple D., Moddel G., Eliasson B. J., Estes M. J., Kunze J., Handy
E., Harmon E. S., Salzman D. B., Woodall J. M., Alam M. A., Murthi J., Jacobsen S.
C., Olivier M., Markus D., Campbell P. M., Snow E., Proc. IEEE,93, 1239 (2005)
